Cultura

Museo de Arte Moderno edita nuevos catálogos

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Santo Domingo.- El Ministerio de Cultura, a través del Museo de Arte Moderno (MAM), concluyó la edición de los catálogos correspondientes a la 28 Bienal Nacional de Artes Visuales (BNAV), la cual estuvo dedicada al Maestro Fernando Peña Defilló.

El catálogo de la pasada edición de la BNAV contiene 389 páginas con una introducción de María Elena Ditrén, directora del Museo de Arte Moderno (MAM), y los textos de los Jurados de Selección: “28 BNAV: Sueños y esperanzas de una Bienal”, por Odalis G. Pérez.

Asimismo: “Una Bienal consensuada”, de Mayra Johnson; y “28 Bienal de Artes Visuales escenario de pluralidad y manifestación artística”, de Amelia Soto. Mientras que por el Jurado de Premiación figura: “La vigésima octava Bienal Nacional de Artes Visuales”, de Michéle Dalmace.

Seguido de las apreciaciones de Bingene Armenteros, miembro de AICA/ADCA, con el escrito “Nuestra cultura, identidad y preocupaciones en las bienales XXVII y XXVIII“; contiene también artículos de los catedráticos Fidel Munnigh y Plinio Chahin, titulados “Pensar lo contemporáneo como ejercicio artístico” y “Los medios tradicionales en el arte dominicano”, respectivamente.

La edición contiene un acápite dedicado al Artista Invitado Especial, Tony Capellán (1955-2017), que hace énfasis en las imágenes de sus obras exhibidas en la pasada edición de la Bienal, magno evento dedicado las artes visuales que realiza el Estado Dominicano.

También fue editado el catálogo “DIÁLOGOinsular: Fernando Peña Defilló”, exposición homenaje de la 28 Bienal Nacional de Artes Visuales, realizada en la Galería Nacional de Bellas Artes, bajo la curaduría de Michell Ricardo, Amable López Meléndez y Marianne de Tolentino.

La introducción del catálogo estuvo a cargo de Ditrén; mientras que la hoja de vida fue escrita por el maestro Peña Defilló con el objetivo de resaltar las emociones y sensaciones de su transcurrir por el arte.

Mientras que el arquitecto y museógrafo, Alex Martínez Suárez escribió el artículo “El Museo Fernando Peña Defilló y el legado de un Maestro”; y la crítica de arte y directora de la Galería Nacional de Bellas Artes, Marianne de Tolentino, el texto “Fernando Peña Defilló, el incomparable”.

Igualmente integran la publicación los textos: “Los símbolos en la pintura de Fernando Peña Defilló”, de la doctora e investigadora, Laura Gil Fiallo; “Fernando Peña Defilló diálogo retrospectivo”, por el curador en Jefe del MAM y crítico de arte, López Meléndez; y “Sobre Diálogo insular”, a cargo de la artista visual y curadora, Michelle Ricardo.

Las fotografías del catálogo correspondiente a la 28 BNAV fueron captadas por Mariano Hernández y las del Artista Homenajeado por Ricardo Hazoury Piantini; en tanto que la imágen gráfica, diseño, edición gráfica, cuidado de impresión y la coordinación editorial correspondieron a Fued Yamil Koussa; y la traducción de BB Alain.

Además forma parte de las nuevas publicaciones del MAM el catálogo de la exposición “haz y envés”, del Artista Invitado a la 25 Bienal Nacional de Artes Visuales, el maestro Ramón Oviedo, en una visión retrospectiva de su obra presentada en el Museo de Arte Moderno. La muestra contó con la curaduría de Carlos Acero y Sara Hermann.

Los textos estuvieron a cargo de los curadores de la exposición Carlos Acero y Sara Hermann y de los críticos de arte Amable López Meléndez, Laura Gil Fiallo, Miguel Ángel Muñoz y Efraim Castillo; con presentación de María Elena Ditrén, directora del Museo de Arte Moderno (MAM), y la biografía del Artista Invitado Ramón Oviedo por Antonio Ocaña.

Las fotografías son de la autoría de los artistas del lente Mariano Hernández y David Pou; diseño de Ariel Figueroa; y la traducción y corrección de estilo a cargo de Fidel Munnigh.

La publicación de los tres catálogos es una iniciativa del ministro de Cultura, el arquitecto Eduardo Selman, con el objetivo mantener vivo el espíritu de la Bienal y el legado de los maestros Ramón Oviedo y Fernando Peña Defilló para conocimiento y disfrute de la presente y futuras generaciones.